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簡要描述：NSG4070D-A230M-50射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)作為一款解決方案，與較早型號相比，NSG 4070D 系列在測試精度、性能和多功能性等各方面都有極大的提升，旨在滿足汽車、醫(yī)療、工業(yè)和消費電子等行業(yè)各種嚴苛的測試要求。
產(chǎn)品型號：NSG4070D-A230M-50廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2025-02-21訪 問 量：937產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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NSG4070D-A230M-50 射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)
AMETEK CTS 非常高興地向廣大客戶發(fā)布 Teseq 品牌在 EMC抗擾度測試領(lǐng)域的全新產(chǎn)品——NSG 4070D 系列射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)。
NSG4070D-A230M-50射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)
主要特點
作為一款先進的一體化機解決方案，NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特點：
集成了信號發(fā)生器
可以產(chǎn)生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信號，輸出電平范圍為 -60 dBm 至 +10 dBm。
調(diào)制能力
支持抗擾度標準常用的幅度調(diào)制（AM）和脈沖調(diào)制（PM），可靈活根據(jù)標準設(shè)置調(diào)制參數(shù)。
信號源的輸出電平范圍更寬
提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范圍內(nèi)的輸出功率，帶來更大的靈活性，適應(yīng)更加多樣化的測試條件。
內(nèi)置了射頻功放模塊
提供了覆蓋不同頻率范圍和不同線性功率的多種功放模塊，滿足不同應(yīng)用的需要。
支持外置功率放大器
還可集成外部的獨立的射頻功放以便構(gòu)成系統(tǒng)，實現(xiàn)更寬的頻率范圍和/或更高的輸出功率，從而滿足擴展的測試要求。
靈活的外置設(shè)備切換功能
支持通過射頻開關(guān)例如 SW 4070 開關(guān)單元，方便切換外部設(shè)備和電流監(jiān)測探頭例如 MD 4070 等設(shè)備。
內(nèi)置了多達 5 路的功率測量單元
3 路外部測量、2 路內(nèi)部測量，可以輕松實現(xiàn)對內(nèi)部的功放模塊或者外部功放的前向和反向功率、電流等參數(shù)的測量。
EUT 監(jiān)測能力
標配對被測物 EUT 的監(jiān)測功能，可以通過數(shù)字 TTL 輸入端口、24 V 數(shù)字輸入端口和光纖輸入端口來完成。此外，它可以監(jiān)測高達 24 V 的模擬電壓，精度為 6 mV，可以確保對設(shè)備性能的全面評估。
廣泛的應(yīng)用范圍
可覆蓋廣泛的不同行業(yè)的標準，適用于汽車、醫(yī)療、軍標、工業(yè)設(shè)備和消費電子產(chǎn)品。
主要變化
與以前的 NSG 4070 系列相比，我們對新的 NSG 4070D 系列進行了顯著的改進和提升。
AMETEK 全新設(shè)計
對主要部件進行了全面的重新設(shè)計，提高了整體產(chǎn)品的性能和可靠性。
重新定義了內(nèi)置的功率模塊的可選型號
提供四種功率模塊，滿足不同的測試需求。
3U 高度的緊湊型設(shè)計
所有型號均只有 3U 的機箱高度，不但適合實驗室使用，還可便攜到外場測試。
當代風格的操作界面
全新的用戶界面，設(shè)計更精簡、直觀，操作更容易，帶來用戶體驗的提升。
支持低頻磁場抗擾度測試
其中兩個型號可支持 IEC 61000-4-39 的低頻磁場抗擾度測試。
可直接調(diào)用的相關(guān)標準的測試
已經(jīng)編好相關(guān)的測試程序，直接調(diào)用即可，涵蓋工業(yè)、汽車、和航空電子測試的主要應(yīng)用。
插入損耗測量功能
為測量無源器件的插入損耗提供了專用的測量功能。
NSG 4070D 系列的發(fā)布，旨在增強了產(chǎn)品的性能和功能，可靠性，標準的覆蓋范圍，用戶操作使用的方便性，專為滿足用戶不斷變化的需求而設(shè)計。
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