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簡要描述：ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備使用方便，可提供精確的三維數(shù)據(jù)，確保由內(nèi)而外的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2026-01-19訪 問 量：1331產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,電氣 |
ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備使用方便，可提供精確的三維數(shù)據(jù)，確保由內(nèi)而外的質(zhì)量控制。
ZEISS METROTOM 1為您工作的快速推進保駕護航：無需對零件進行任何預(yù)處理，即可采集精確的3D數(shù)據(jù)。借助計算機斷層掃描技術(shù)，您可以對零件進行無損掃描并查看內(nèi)部結(jié)構(gòu)。能夠測量、分析和檢驗隱蔽缺陷及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。與ZEISS INSPECT軟件結(jié)合使用，達到了簡化質(zhì)量控制流程的新境界。
該系統(tǒng)操作簡便，各類用戶都可以通過該系統(tǒng)開啟測量過程，并獲取精確的數(shù)據(jù)。METROTOM 1體積小巧，可輕松適配您的空間。只需按下按鈕，即可在機構(gòu)內(nèi)部開始測量和檢查。這款智能、緊湊型解決方案配備了封閉式X射線管，旨在降低維護成本。
您可以使用METROTOM 1進行無損掃描，檢驗內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。無需對零件進行任何預(yù)處理，即可開始測量過程。在掃描下一個零件時，可同時對上一個零件進行檢驗或逆向工程。
同時測量多個零件是METROTOM 1高效的功能之一。規(guī)則很簡單：大程度地利用測量體積，實現(xiàn)大批量測量。結(jié)果：在確保測量效果的同時，縮短了每個零件的掃描時間。ZEISS INSPECT可自動分離和評估各個零件，從而快速提供測量結(jié)果報告。
METROTOM 1搭載的ZEISS INSPECT軟件可指導(dǎo)您逐步完成測量過程。憑借體積可視化以及對掃描數(shù)據(jù)的檢驗功能，您可以了解零件的所有尺寸，包括隱藏部分的尺寸信息。通過對零件內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)的掃描，可以輕松對零件進行逆向工程處理。
既簡單又高效。僅需一次掃描。METROTOM 1可為您提供以下支持：
對中小型部件進行3D掃描
精確測量
質(zhì)量檢驗和保證
對廢品進行深入分析
對照CAD檢查相應(yīng)的部件
電壓、功率、曝光時間和步數(shù)是計算機斷層掃描（CT）的一些重要測量參數(shù)。ZEISS METROTOM 1在運行過程中，會依托ZEISS INSPECT自動確定這些參數(shù)值。軟件可為您提供最佳起始值，從而降低掃描設(shè)置的復(fù)雜度。METROTOM 1以操作簡便、采集速度快和評估功能直觀為立足之本。一體化概念值得信賴。
ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備可在多種環(huán)境中使用。其設(shè)計堅固耐用，除此之外，還可以防止內(nèi)部溫度出現(xiàn)波動。主動冷卻系統(tǒng)可確保系統(tǒng)正常運行：它能確保系統(tǒng)內(nèi)外溫度相同，防止零件發(fā)生任何熱膨脹。METROTOM 1是一款采用了前沿技術(shù)的、穩(wěn)定的重負載系統(tǒng)。
METROTOM 1搭載 ZEISS INSPECT軟件，是以用戶為中心的一體化軟件解決方案，也是三維計量的既定標準。它功能強大，包括體積可視化和檢驗、尺寸計量、趨勢分析和比較、缺陷檢測和檢驗等，使其成為可充分發(fā)揮系統(tǒng)各項功能的理想工具。
在生產(chǎn)過程中以及現(xiàn)場安裝后，每臺METOROTOM 1均會接受精度檢查。進行精度檢查時，會使用經(jīng)過校準和德國認可委員會（DAkkS）認證的驗收工具。您可以隨時使用現(xiàn)場的校準物重新校準掃描儀。
在165 x 140 mm的測量體積內(nèi)，可以輕松測量任何零件?？赏ㄟ^數(shù)字方式對測量體積進行微調(diào)。同時，還可以根據(jù)需要調(diào)整分辨率，加快測量過程，從而縮短掃描時間。
這款緊湊型系統(tǒng)配備以下配件：
校準物
連續(xù)掃描模式
ZEISS INSPECT
160 kV的X射線源
主動溫度控制
操作站
2.5k探測器
溫控柜
ZEISS研發(fā)的探測器
質(zhì)量控制和檢驗
CAD與零件的標稱值/實際值比較
尺寸測量
零件任意深度的截面檢驗
分析壁厚分布
功能尺寸
工具和模具制造
通過掃描按不同參數(shù)生產(chǎn)的多個樣品，確保準確無誤
減少了過程中的迭代次數(shù)
通過快速檢驗多個零件來監(jiān)控生產(chǎn)過程
工具/模具獲批后采集實際值
部件翹曲補償
產(chǎn)品研發(fā)和設(shè)計
檢查透明物體和軟聚合物等高要求產(chǎn)品
組件的功能和誤差分析
無損分析材料缺陷，如氣孔、孔隙或裂紋
對現(xiàn)有零件或零件幾何形狀進行逆向工程
驗證工程設(shè)計
METROTOM 1
X射線源 160 kV
X射線探測器（像素） 2.5 k (2,500 x 2,500)
測量體積 165 x 140 mm
計量規(guī)格（MPE SD） 5 µm +L/100
尺寸 1750 mm（寬）x 1820 mm（高）x 870 mm（深）
重量 2100 kg
軟件 ZEISS INSPECT
體素尺寸 低至 32.6 µm
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