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SENTECH臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬xFTPadv通過(guò)選擇合適的配方，F(xiàn)TPadv反射儀以小于100ms的測(cè)量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的精度進(jìn)行厚度測(cè)量。
RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測(cè)量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計(jì)算單層或?qū)盈B膜的厚度、消光系數(shù)和折射率指數(shù)。在紫外-可見(jiàn)光- 近紅外光譜范圍內(nèi)，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。
安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結(jié)合了橢偏儀和反射儀，除了測(cè)量透明膜層厚度的模糊性。它把可測(cè)量的厚度擴(kuò)展到25m，因此SE 500adv擴(kuò)展了標(biāo)準(zhǔn)激光橢偏儀SE 400adv的能力，特別適用于分析較厚的介質(zhì)膜、有機(jī)材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。
安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測(cè)量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長(zhǎng)和終點(diǎn)檢測(cè)，或者做樣品均勻性的自動(dòng)掃描。
TK4260交流充電接口綜合測(cè)試與分析單元是一款專用于電動(dòng)汽車交流充電樁輸出側(cè)交流參數(shù)轉(zhuǎn)換的儀器，配有標(biāo)準(zhǔn)交流充電插座，可用于交流充電樁互操作性測(cè)試等項(xiàng)目。
菊水TOS6200A地線導(dǎo)通測(cè)試儀TOS6200A是為進(jìn)行電氣產(chǎn)品安全法、IEC、EN、VDE、BS、UL、JIS等安全標(biāo)準(zhǔn)中的I等級(jí)設(shè)備所要求的接地電阻的測(cè)試儀。該測(cè)試儀通過(guò)新開(kāi)發(fā)的高效率電源，實(shí)現(xiàn)了150VA的大輸出，體積小，質(zhì)量輕。該測(cè)試儀通過(guò)采用恒流方式，可針對(duì)被試驗(yàn)物的電阻值變化提供穩(wěn)定的電流，*可以應(yīng)對(duì)生產(chǎn)線上的自動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)。
Keithley吉時(shí)利2015-P 音頻分析儀2015-P型音頻分析數(shù)字多用表集成了音頻帶質(zhì)量檢測(cè)與分析和全功能六位半數(shù)字多用表的功能。測(cè)試工程師可以進(jìn)行寬范圍的電壓、電阻、電流、頻率和失真測(cè)量，而所有這些都集成在一個(gè)半機(jī)架尺寸的緊湊儀器內(nèi)。
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。
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