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聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng)，一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過(guò)大量認(rèn)證，是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。
聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開發(fā)的。
聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO LIV，光譜測(cè)試機(jī)臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)8x8老化夾具，主要功能和參數(shù)指標(biāo)包括： ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算. ? 支持中心波長(zhǎng)和SMSR測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）
聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試，詳細(xì)功能包括： - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇 - 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）. - 支持LIV 和光譜并行測(cè)試
聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO 標(biāo)準(zhǔn)老化系統(tǒng)，主要功能和特點(diǎn)包括：。 - 雙溫區(qū)，每個(gè)溫區(qū)可以獨(dú)立老化不同產(chǎn)品 - 大容量，每個(gè)溫區(qū)支持1536 顆TO 的老化，共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義，針對(duì)目前行業(yè)內(nèi)不同的引腳封裝通過(guò)軟件切換實(shí)現(xiàn) - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化
ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)，系統(tǒng)IV曲線自動(dòng)生成，也可根據(jù)實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。
EN-1230A分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)于半導(dǎo)體器件進(jìn)行非破壞性瞬態(tài)測(cè)試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試。系 統(tǒng)的測(cè)試原理符合相應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、軍標(biāo)、系統(tǒng)為獨(dú)立式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋?/p>
容測(cè)EA-I16汽車電源故障模擬器EA-I16 線束微中斷模擬器(汽車電源故障模擬器)電源線信號(hào)線二合一設(shè)計(jì)，應(yīng)用于汽車線束微中斷測(cè)試，輸出波形，最小支持1us中斷試驗(yàn)。
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